- 解决方案|微波消解-电感耦合等离子体发射光谱法测定电池材料中金属元素含量
微量金属的测试一般在原子吸收分光光度计(AAS)或电感耦合等离子体原子发射光谱分析仪(ICP-AES)上完成。但AAS测试中易受其他元素干扰严重,而且每次只能对一种元素进行测试,测试效率较低;而ICP-AES,不仅同时进...
- 解决方案|电感耦合等离子体发射光谱法测定电池材料中金属元素含量
微量金属的测试一般在原子吸收分光光度计(AAS)或电感耦合等离子体原子发射光谱分析仪(ICP-AES)上完成。但AAS测试中易受其他元素干扰严重,而且每次只能对一种元素进行测试,测试效率较低;而ICP-AES,不仅同时进...
- 解决方案|电感耦合等离子体发射光谱法测定电池材料中金属元素含量
微量金属的测试一般在原子吸收分光光度计(AAS)或电感耦合等离子体原子发射光谱分析仪(ICP-AES)上完成。但AAS测试中易受其他元素干扰严重,而且每次只能对一种元素进行测试,测试效率较低;而ICP-AES,不仅同时进...
- 解决方案|活化胶体钯中钯元素(Pd)含量分析
胶体钯,一种主要由氯化钯与氯化亚锡等反应制备而成的钯水,在塑料电镀行业当中的PCB(电路板)化学镀铜中有着广泛的应用。PCB基材是非金属导体,孔金属化工艺中,胶体钯活化液主要作用是实现电子元器件的电气连...
- 解决方案|GBC Quantima 电感耦合等离子体发射光谱仪测定材料中的镓、铁、硫、钒、铜、钙、镁、铝、锌含量
电感耦合等离子体发射光谱法具有灵敏度高、检出限低、干扰、线性范围宽等优点,在冶金、环境、食品、农业等各行各业得到了广泛的应用。本文利用GBC Quantima 电感耦合等离子体发射光谱仪,建立了测定半导体生产...
- 解决方案|ICP-OES法测定半导体材料制备工艺中镓、铁、钒、铜、钙、镁、铝、锌和硫含量
目前,我国已经成为最大的半导体市场,并且继续保持最快的增速。伴随着国内半导体核心材料技术的突破,预计我国半导体材料市场需求将得到更大释放。半导体材料的生产过程涉及多晶合成、单晶生长后的切割、磨边、...
- 解决方案|离子色谱法测定蚀刻液中的氯离子、硝酸根离子和硫酸根离子
为了确定蚀刻液的适宜组分比例及工艺条件,需要确定溶液中这些影响主要性能的阴离子含量。目前,测定溶液中的离子常用的方法为离子色谱法,本文作者根据以往经验通过对样品前处理及实验条件的摸索,建立了离子色...
- 解决方案|ICP法测定半导体行业生产用材料中镓、铁、钒、铜、钙、镁、铝、锌含量
半导体行业目前已成为衡量一个国家产业竞争力和综合国力的重要标志。随着半导体行业进入纳米时代,杂质含量成为非常敏感的存在。如何检测杂质含量已成为半导体工业界面面临的重要挑战。东西分析拥有多款电感耦合...
- 解决方案|离子色谱法测定电镀药液中的氯离子和硫酸根离子含量
电镀药水是指可以扩大金属的阴极电流密度范围、改善镀层的外观、增加溶液抗氧化的稳定性等特点的液体。工业电镀一般采用硫酸根,因为电镀过程中氯离子可以失去电子生成氯气,而硝酸根在酸性条件下,其强氧化性会...
- 解决方案|ICP-OES法测定半导体芯片清洗液中重金属
随着通信技术的快速发展,半导体芯片清洗液的关注度及可靠性引起了越来越多的关注。本文采用Quantima电感耦合等离子发射光谱仪建立了清洗液中的相关金属元素检测解决方案,供相关人员参考。附件下载